ورود
ثبت نام
دانلود تحقیق Atomic Force Microscope تاریخچه: میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscope) یا میکروسکوپ نیروی پویشی در سال ۱۹۸۶ توسط کوئِیْت، بنینگ و گربراختراع شد. مانند تمام میکروسکوپ‌های پراب پویشی دیگر، AFM از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونه تحت بررسی حرکت می‌کند، استفاده می‌کند. در مورد م.ن.ا، نوکی بر روی کانتی‌لیور (اهرم) وجود دارد که در اثر نیروی بین نمونه و نوک خم می‌شود. با خم شدن کانتی‌لیور، انعکاس نور لیزر بر روی آشکارسازنوری جابجا می‌شود. بدین ترتیب می‌توان جابجایی نوک کانتی‌لیور را اندازه‌گیری کرد. از آنجایی که کانتی‌لیور در جابجایی‌های کوچک از قانون هوک پیروی می‌کند، از روی جابجایی کانتی‌لیور می‌توان نیروی برهم‌کنش بین نوک و سطح نمونه را بدست آورد. و از روی نیروی بین اتم‌های سطح نمونه و پراب، می‌توان فاصلهٔ بین نوک […]
برای توضیحات بیشتر و دانلود اینجا کلیک کنید